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Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
Günther von Bünau
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Inhalt Apparatur.- Allgemeines zur Sekundärionenerzeugung.- Sekundärionenausbeute.- Nachweisempfindlichkeit.- Hochauflösung.- Frag...
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