Inhalt
I. Einleitung.- II. Si(Li)-Röntgendetektor-System.- 1. Totzeit-Korrektur der Röntgenmeßstrecke.- 2. Die Ansprechwahrscheinlichkeit des Si(Li)-Röntgendetektors.- III. Nachweis von Spurenelementen.- 1. Bestimmung der Nachweisgrenzen.- 2. Suche nach superschweren Elementen in Pechblende.- IV. Wirkungsquerschnitte für L-Unterschalen-Ionisierung durch Protonen.- V. Emission von Röntgenstrahlung nach Beschuß dicker Targets mit schweren Ionen.- VI. Winkelverteilung der L-Röntgenstrahlung nach Ionisation mit einem unpolarisierten Teilchenstrahl.- VII. Zusammenfassung.- Anhang 1.- Anhang 2.