Inhalt
1 Oszilloskopmeßtechnik für schnell veränderliche hohe Spannungen und Ströme.- 1.1 Elektronenstrahloszilloskope.- 1.2 Speicheroszilloskope und photographische Aufzeichnung.- 1.3 Digitale Speichersysteme.- 1.4 Meßkabel.- 1.5 Elektromagnetische Verträglichkeit.- 1.6 Messungen mit Differenzverstärkern.- 2 Messung hoher Stoßspannungen mit Spannungsteiler und Elektronenstrahloszilloskop.- 2.1 Der Meßkreis und seine Übertragungseigenschaften.- 2.2 Ohmsche Spannungsteiler.- 2.3 Kapazitive Spannungsteiler.- 2.4 Das Kettenleiterersatzschaltbild.- 2.5 Leitungsspannungsteiler.- 3 Einrichtungen zur Messung hoher Gleich- und Stoßspannungen sowie des Scheitel- und Effektivwerts hoher Wechselspannungen.- 3.1 Messung hoher Gleichspannungen und des Effektivwerts hoher Wechselspannungen.- 3.2 Messung des Effektivwerts hoher Wechselspannungen.- 3.3 Messung hoher Gleichspannungen, Stoßspannungen und des Scheitelwerts hoher Wechselspannungen mit der Kugelfunkenstrecke.- 3.4 Messung des Scheitelwerts hoher Wechsel- und Stoßspannungen.- 3.5 Messung hoher Gleichspannungen sowie des Scheitelwerts und beliebiger Zwischenwerte hoher Wechselspannungen mit Hochspannungsmessern nach dem Generatorprinzip.- 3.6 Absolute Spannungsmessung.- 3.7 Messung elektrostatischer Aufladungen.- 4 Messung hoher, schnellveränderlicher Ströme mit dem Elektronenstrahloszilloskop.- 4.1 Niederohmige Meßwiderstände.- 4.2 Magnetische Spannungsmesser (Rogowski-Spulen).- 4.3 Hall-Generatoren.- 5 Nichtkonventionelle Messung hoher Spannungen und Ströme.- 5.1 Optische Effekte.- 5.2 Intensitätsmodulation.- 5.3 Nichtkonventionelle Strommessung.- 5.4 Nichtkonventionelle Spannungsmessung.- 6 Dielektrische Messungen.- 6.1 Serien- und Parallelersatzschaltbild verlustbehafteter Kondensatoren.- 6.2Brückenschaltungen zum Messen von Kapazitäten und Verlustfaktoren.- 6.3 Allgemeine Betrachtungen über Empfindlichkeit, Abschirmung und Brückenelemente.- 6.4 Messung der Kapazität und des Verlustfaktors geerdeter Prüflinge.- 7 Teilentladungsmeßtechnik.- 7.1 Teilentladungsimpulse in Hohlräumen.- 7.2 Teilentladungsmeßschaltungen.- 7.3 Prüflinge mit verteilten Parametern.- 7.4 Meßgeräte zur Erfassung von Teilentladungen.- 7.5 Aussagekraft der am Ankopplungsvierpol gemessenen Größen in bezug auf die Größe der tatsächlichen Teilentladungen.- 7.6 Äquivalenz von Teilentladungsmeßergebnissen in Picocoulomb und Mikrovolt.- 7.7 Abschließende Bemerkungen zur Teilentladungsmeßtechnik.