Bei der Herausgabe dieses Tabellenwerkes, das ursprünglich für den eigenen Laboratoriumsgebrauch gedacht war, um das ständige Nachschlagen in den verschiedenen Büchern und die Ausrechnung nichttabellierter Funktionen zu ersparen, schwebte mir eine Samm lung vor, die alle die Hilfsmittel enthält, die der Röntgenpraktiker täglich bei seinen Arbeiten benötigt. Ein solches Bemühen schien mir deshalb nicht unnütz, weil die vorhandenen Tabellenwerke stets nur für spezielle Probleme der Röntgenstrukturanalyse gedacht sind. In dem Textteil am Anfang der einzelnen Abschnitte sind jeweils die wichtigsten Formeln und Erläuterungen für die Benutzung der Tabellen angegeben. Es wurde dabei vorausgesetzt, daß die einzelnen Methoden der Strukturanalysen schon bekannt sind. Zur Information darüber sei auf die bekannten Lehrbücher, insbesondere auf das auch in dieser Monographiensammlung erscheinende und mit meinen Ta bellen abgestimmte Buch von Prof. E. SAUR "Röntgenstrukturanalyse" verwiesen. An dieser Stelle ist noch folgendes zu bemerken: Alle Wellenlängen und Gitterkonstanten sind in absoluten Angström-Einheiten (A) an gegeben. Um daraus die alten KX-Einheiten zu erhalten, sind sie durch 1,00202 zu dividieren. Bei der Gruppierung einiger anorganischer und metallischer Verbindungen im Abschnitt A habe ich mich sehr eng an die von R. GLOCKER in "Materialprüfung mit Röntgenstrahlen" vorgeschlagene Einteilung gehalten. Ich glaubte, im Rahmen dieses Buches nicht darauf verzichten zu können, da sich diese Typisierung besonders für den Metallkundler als ganz außerordentlich bequem er wies. Die jeweils mit angegebenen internationalen Strukturbezeich nungen geben den Anschluß an die übliche Bezeichnungsweise.

Klappentext

Inhalt
A. Tafeln zur Indizierung der Kristallinterferenzen.- 1. Braggsche Gleichung und quadratische Formeln.- 2. Indizierung von Pulveraufnahmen.- 3. Fehler und ihre Eliminierung bei Debye-Scherrer-Aufnahmen.- 4. Fehler bei Rückstrahlaufnahmen mit einer flachen Kamera.- 5. Linienverschiebung beim Geiger-Müller-Diffraktometer.- 6. Brechungskorrektur.- 7. Drehkristallaufnahmen.- 8. Einige kristallographische Formeln.- Tafeln.- 1. Netzebenenabstände für verschiedene Wellenlängen.- 2. Wellenlängen und deren Quadrate der gebräuchlichsten K?-Serien.- 3. Trigonometrische Funktionen.- 4. Werte von $${\left( {\frac{a}{c}} \right)^2}{l^2}$$.- 5. Beziehungen zwischen hexogonalen, rhomboedrischen und orthohexagonalen Kristallsystemen.- 6. Kubische Gittertypen.- 7. Tetragonale Gittertypen.- 8. Hexagonale Gittertypen.- 9. Kristallstrukturen einiger anorganischer und metallischer Verbindungen.- 10. Struktureinzelheiten.- 11. Gitterkonstanten von verschiedenen Eichsubstanzen.- 12. Glanzwinkel von Nanl für verschiedene Strahlungen.- 13. Glanzwinkel von Au für verschiedene Strahlungen.- 14. Glanzwinkel kubischer Gitter für verschiedene Strahlungen.- 15. Die Funktion $$\frac{1}{2}\left( {\frac{{{{\cos }^2}\Theta }}{{\sin \Theta }} + \frac{{{{\cos }^2}\Theta }}{\Theta }} \right)$$.- 16. Brechungskorrektur für verschiedene Wellenlängen.- 17. Nomogramm zur Berechnung des Identitätsabstandes bei Drehkristall-aufnahmen mit zylindrischer Filmkassette.- 18. Nomogramm zur Berechnung des Identitätsabstandes bei Drehkristall-aufnahmen mit ebener Filmkassette.- 19. Nomogramm zur Umrechnung von Gewichts- in Atomprozente für binäre Systeme.- 20. Winkel zwischen verschiedenen Kristallebenen in kubischen Systemen.- 21. Winkel zwischen verschiedenen Kristallebenen in tetragonalen Systemen.-22. Winkel zwischen verschiedenen Kristallebenen in hexagonalen Systemen.- 23. Wachstumstexturen von Metallen.- 24. Verformungstexturen von Metallen.- B. Tafeln zur Bestimmung der Linienintensitäten.- 1. Absolute Intensitäten.- 2. Die Absorption der Röntgenstrahlen.- 3. Absolute Intensitäten der häufigsten Meßverfahren.- 4. Relative Intensitäten.- Tafeln.- 1. Das Produkt PLG für verschiedene Aufnahmemethoden.- 2. Das Produkt PL für symmetrische Guinier-Aufnahmen mit Quarz-Monochromator.- 3. Der Flächenhäufigkeitsfaktor.- 4 Einheitskreis zur Berechnung von cos 2 ? h x und sin 2 ? h x.- 5. Numerische Werte von cos 2 ? h x und sin 2 ? h x.- 6. Atomformfaktoren der Elemente.- 7. Korrekturtafeln der Atomfaktoren bei anomaler Dispersion.- 8. Werte von ?k der Elemente r.- 9. Werte des Faktors $$B' = \frac{{6{\text{ }}{h^2}}}{k}\left{ {\frac{{\Phi \left( x \right)}}{x} + \frac{1}{4}} \right}$$.- 10. Charakteristische Temperaturen.- 11. Debye-Waller-Temperaturfaktor.- 12. Massenschwächungskoeffizienten der Elemente.- 13. Absorptionsfaktor für homogene, zylindrische Proben (?r 5).- 15. Absorptionsfaktor für Kristallpulver auf zylindrische Träger.- 16. Absorptionsfaktor für plättchenförmige Proben (? = 0°).- 17. Absorptionsfaktor für plättchenförmige Proben (? = 10°).- 18. Absorptionsfaktor für plättchenförmige Proben (? = 20°).- 19. Absorptionsfaktor für plättchenförmige Proben (? = 30°).- 20. Absorptionsfaktor für plättchenförmige Proben (? = 40°).- 21. Absorptionsfaktor für plättchenförmige Proben (? = 50°).- 22. Absorptionsfaktor für plättchenförmige Proben (? = 60°).- 23. Absorptionsfaktor für plättchenförmige Proben (? = 70°).- 24.Absorptionsfaktor für plättchenförmige Proben (? = 80°).- 25. Absorptionsfaktor für kugelförmige Proben ?r 5).- 27. Werte von $$\frac{{{e^4}{\lambda ^3}}}{{2{m^2}{c^4}}}$$ für verschiedene Wellenlängen.- 28. Die 14 Translationsgitter.- 29. Auslöschungsbedingungen.- C. Tafeln zur Analyse des diffusen Untergrundes.- 1. Die von der Atomanordnung abhängige Streuintensität.- 2. Die inkohärente Streuung.- 3. Die Temperaturstreuung.- 4. Bestimmung der Nahordnung in binären Legierungen mit Hilfe der molekularen Verteilungsfunktionen.- Tafeln.- 1. Die Funktion $$s = 4\pi \frac{{\sin \Theta }}{\lambda }$$ für verschiedene Wellenlängen.- 2. Polarisations- und geometrische Faktoren der verschiedenen Aufnahmetechniken.- 3. Winkel-Funktionen von s r.- 4. Intensität der Compton-Streuung.- 5. Relativistischer Korrekturfaktor der Compton-Streuung.- D. Einige physikalische und mathematische Tafeln.- Tafel.- 1. Universell…