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Höchstauflösende Kraftmikroskopie mit subatomar definierten Bindungszuständen

Joachim Welker
Kartonierter Einband, 146 Seiten
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Rastersondenmikroskopie ist heute eine wichtige analytische Methode in der Oberflächenphysik. Im Rastersondenmikroskop wird eine a...

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Beschreibung

Rastersondenmikroskopie ist heute eine wichtige analytische Methode in der Oberflächenphysik. Im Rastersondenmikroskop wird eine atomar scharfe Spitze in einem Abstand von wenigen hundert Pikometer über eine Probe geführt und die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe gemessen. Hochauflösende Rasterkraftmikroskopie ist in der Lage subatomare Strukturen abzubilden. In dieser Arbeit wird eine Methode zur Charakterisierung des Bindungszustands der Spitze vorgestellt. Dafür wird die Entwicklung der chemischen Bindungskraft zwischen einem Wolfram-Spitzenatom und einem Kohlenmonoxid-Molekül quantitativ untersucht. Je nach Orientierung der Wolfram-Spitze zeigt sich eine subatomare Winkelabhängigkeit der Bindungskraft. Die Orientierung der Spitze kann verändert werden, um einen Bindungszustand mit einer bestimmten Symmetrie zu erhalten. Mit dieser Methode wird der Einfluss des Bindungszustands auf die Kraftmessung an einer Silizium-Probe untersucht.

Produktinformationen

Titel:
Höchstauflösende Kraftmikroskopie mit subatomar definierten Bindungszuständen
Untertitel:
Dissertationsreihe Physik 30
Autor:
Joachim Welker
EAN:
9783868450965
ISBN:
978-3-86845-096-5
Format:
Kartonierter Einband
Hersteller:
Universitätsverlag Regensburg
Herausgeber:
Universitaetsvlg. Regensb
Genre:
Theoretische Physik
Veröffentlichung:
31.03.2013
Anzahl Seiten:
146
Gewicht:
377g
Größe:
H244mm x B174mm x T12mm
Jahr:
2013
Untertitel:
Deutsch

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