

Beschreibung
Dies ist der dritte von drei Bänden über Rastertunnelmikroskopie und verwandte Rastersensor-Methoden, die dieses Thema insgesamt umfassend behandeln. Diese drei Bände sprechen die gleiche Lesergruppe an, die nicht nur unter den Oberflächen-Physikern zu finden...Dies ist der dritte von drei Bänden über Rastertunnelmikroskopie und verwandte Rastersensor-Methoden, die dieses Thema insgesamt umfassend behandeln. Diese drei Bände sprechen die gleiche Lesergruppe an, die nicht nur unter den Oberflächen-Physikern zu finden ist, sondern auch in der Physik allgemein, Chemie, Biologie und Materialwissenschaften.
This is the second edition of the third of three volumes devoted to scanning tunneling microscopy and related scanning probe methods that together offer a comprehensive treatment of this subject. The three volumes have the same marketing audience. This audience is not only to be found within the surface science community, but also in general physics, chemistry, biology, and materials sciences.
Inhalt
