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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

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Beschreibung

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. 

Inhalt

Introduction and Motivation.- Radio Systems Overview: Architecture, Performance and Built-in-Test.- Efficient Testing for RF SoCs.- RF Built-in-Self-Test.- RF Built-in-Self-Calibration.- Conclusions.

Produktinformationen

Titel: Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Autor:
EAN: 9781441995483
ISBN: 978-1-4419-9548-3
Digitaler Kopierschutz: Wasserzeichen
Format: E-Book (pdf)
Herausgeber: Springer
Genre: Technik
Anzahl Seiten: 89
Veröffentlichung: 23.09.2011
Jahr: 2011
Untertitel: Englisch
Dateigrösse: 1.8 MB

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