Chemical Shift in the Investigation of Compounds with the Microprobe Changes in the X-ray spectra of Ti, Hf, and Ta as a function of their bonding to B were investigated. Lines of the K-, L-, and M-series were measured. Since only the lines of highest intensity are observed in heat excitation, only an indirect dependence on the binding is demonstrable. For this reason, the values observed were interpreted as being due to the overlapping of the outer energy bands in chemical compounds. Literatur 1 H. Kunst, Harterei-Techn. Mitt. 28, 105 (1073). 2 K. Sage!, Tabellen zur Rontgen-Emissions-und Absorptions-Analyse Berlin-Gottingen-Heide!berg: Springer-Verlag. 1959. 3 O. Schaaber, Mikrochim. Acta [Wien], Suppl. 1, 1966, 117. 4 O. Schaaber und H. Vetters, Mikrochim. Acta [Wi en] , Suppl. 5, 1974,99. 5 M. Zyryanov und S. Nemnonov, Fizika metallov metalloved. 31, 335 (1971). 6 V. Nemoshalenko und Korkisko Groskiy, Fizika metallov metalloved. 31, 634 (1971). 7 S. A. Nemnonov und K. M. Kolobova, Fizika metallov metalloved. 22, 680 (1966). 8 P. A. Lange, Tagung der Firma C. H. F. Muller, Hamburg/Darmstadt, 1964, S. 133. 9 S. A. Nemnonov und L. D. Finke!'stejn, Fizika metallov metalloved. 21,211 (1966). 10 R. Klockenkamper, Spectrochim. Acta 9, 547 (1971). 11 H. Vetters, Harterei-Techn. Mitt. 28, Nr. 4 (1973).

Inhalt
Zur Frage der günstigsten Anregungsspannung bei der Elektronenstrahl-Mikroanalyse.- On the Most Advantageous Excitation Voltage for Microprobe Analysis.- Zur Frage der Bestimmung des Untergrundes bei der quantitativen Mikroanalyse.- The Analysis of the Background in Quantitative Analysis.- Chemical Shift bei Verbindungsbestimmungen mit der Mikrosonde.- Chemical Shift in the Investigation of Compounds with the Microprobe.- Berührungslose Temperaturmessung an elektronenbestrahlten Targets in der Mikrosonde.- The Measurement of Temperature in Electronirradiated Targets in Microprobes without Touching Them.- Die Bestimmung der Nachweisgrenze dünner Schichten auf einem Substrat.- The Determination of the Detection Limit of Thin Layers on a Substrate.- Zur quantitativen Bestimmung dünner Metallaufdampfschichten mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde.- The Quantitative Determination of Thin Metallization Layers by Means of Micro Probe Analysis.- Einsatz der Probenstromsteuerung bei der Mikroanalyse von Brüchen.- Application of Control of Current from a Probe in the Microanalysis of Cracks.- Untersuchungen an Fe-Cr-C-Legierungen mit Molybdänzusätzen.- Investigations on Fe-Cr-C-alloys Containing Molybdenum.- Einfluß der erstarrungsbedingten Chromseigerung auf die Kohlenstoffverteilung.- Effect on the Partition of Carbon of the Separation of Chromium Caused by Freezing.- Die Anwendung der Mikrosonde und von Isolierungsverfahren zur Erfassung primärer und sekundärer calciumhaltiger Desoxydationsprodukte im Stahl.- The Use of Microprobes and of Separation Procedures to Investigate Primary and Secondary Calcium-containing Deoxidation Products in Steel.- Die Bestimmung von Calzium-Silikat-Einschlüssen im Stahl. Diskussionsbeitrag zum Vortrag von J. Bruch.- Eine Methode zurVerhinderung unzulässiger Probenerwärmung, zur Verbesserung der Zählstatistik sowie ein Korrekturverfahren zur Bestimmung kleiner Diffusionskoeffizienten bei Mikrosondenmessungen.- An EMPA Technique for the Prevention of Undesirable Heating of Samples, for the Improvement of Counting Statistics, and a Correction Procedure for Small Diffusion Coefficient Measurements.- Aufbau und Anwendung einer Elektronenstrahlmakrosonde.- Construction and Use of an Electron-Beam Macroprobe.- Möglichkeiten zur Darstellung des Gefügeaufbaues.- The Representation of Structural Constitution.- Möglichkeiten zur Darstellung der Gefügehomogenität. Diskussionsbeitrag zum Vortrag von A. Kulmburg.- Fortschritte auf dem Gebiet der Kossel-Technik.- Advances in the Field of the Kossel Method.- Korrekturprogramm für quantitative Elektronenstrahlmikroanalyse.- A Computer Program for Correction of Electron Microprobe Data.- Automatische Datenausgabe und Datenverarbeitung an einer Elektronenstrahlmikrosonde.- The Automatic Display and Working-Up of Data from an Electron-Beam Microprobe.- PETRDATA ein Programmiersystem zur Korrektur von Mikrosonden-Silikatanalysen und Berechnung von mineralischen und petrographischen Daten.- PETRDATA A Program for Correcting Silicate Analysis by Microprobes, and Calculating Mineralogical and Petrographic Data.- Der Nachweis von Spurenelementen mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde am Beispiel von Eisen-Kohlenstoff-Legierungen.- The Detection of Trace Elements in Iron-Carbon Alloys by Means of an Electron-Beam Microprobe.- Bedeutung der Spurenphasenanalyse in der Pulvermetallurgie.- On the Importance of Trace Phase Analysis in Powder Metallurgy.- Elektrochemische Sauerstoffbestimmung und Thermodynamik der Löslichkeit in flüssigen Metallsystemen.- TheElectrochemical Determination of Oxygen, and the Thermodynamics of its Solubility in Liquid Metal Systems.- Einsatz der elektrochemischen Phasenisolierung zum Studium der Aushärtevorgänge einer martensitischen Fe-Ni-Mn-Legierung.- Application of Electrochemical Isolation of Phases to the Study of the Precipitation-Hardening of a Martensitic Fe-Ni-Mn Alloy.- Photoelektronenspektrometrische Untersuchungen an auf Glas aufgedampften Metallschichten.- Photoelectron-spectrometric Investigations of Metal Films Evaporated onto Glass.- Quantitative Analyse metallischer Proben mittels Photoelektronenspektrometrie.- Quantitative Analysis of Metallic Samples by Means of Photo-electronspectrometry.- Röntgenstreuanalyse.- X-Ray Scattering Analysis.- Röntgenfluoreszenzanalytische Bestimmung von Massenschwächungskoeffizienten.- The Determination of Mass Absorption Coefficients by X-Ray Fluorescence Analysis.- Chemische Effekte bei der Auger-Elektronen-Spektroskopie.- Chemical Effects in Auger-Electron Spectroscopy.- Massenspektrographische Laser-Mikroanalyse und emissionsspektrographische Laser-Mikroanalyse unter Schutzgas mit Hilfe des Laser-Mikrospektral-Analysators LMA 1.- Mass Spectrographic Laser Microanalysis and Emission Spectrographic Laser Microanalysis in Inert Gas, with the Help of the Laser Microspectral Analyzer LMA 1.- Grundlagen, Grenzen und Möglichkeiten der Oberflächenanalyse mit Hilfe von Ionenstrahlen.- Principles, Limits, and Potentialities of Surface Analysis by Means of Ion Beams.- Beobachtungen zur Tiefeninformation der Sekundärionen-Massenspektrometrie.- On Depth Information by Secondary Ion Mass Spectrometry.- Aspekte zur qualitativen und quantitativen Analyse in der Sekundärionenmassenspektrometrie.- Notes on Qualitative and Quantitative Analysis inSecondary Ion Mass Spectroscopy.- Ein Beitrag zur Gefügeanalyse mit der Mikrosonde.- On the Structure Analysis by Use of a Microprobe.- Ein Vergleich zwischen energiedispersiver und wellenlängendispersiver Elektronenstrahlmikroanalyse.- A Comparison between Energy-Disperse and Wave-Length Disperse Electron Beam Microanalysis.