In fast allen Wissenschaftsgebieten nehmen heute elektronische MeB methoden einen hervorragenden Platz ein. Besonders gilt dies fur die Kern physik bzw. Kerntechnik, in der oft hOchste Anspruche an die MeBgerate gestellt werden. Urn aber fur eine gestellte meBtechnische Aufgabe die elek tronischen Anforderungen richtig abzuschatzen bzw. die Moglichkeiten einer vorgegebenen Apparatur zu erkennen, muB der experimentelle Wissen schaftler bereits uber eine beachtliche Kenntnis der Elektronik verfugen. Auch die Fahigkeit, bei einer MiBfunktion eines elektronischen Gerates den Fehler erkennen, lokalisieren und beheben zu konnen, ist in der Praxis einer effektiven Forschungsarbeit von groBter Wichtigkeit. SchlieBlich erfordert die Kombination verschiedener MeBeinheiten, die oft von verschiedenen Herstellern stammen, ein genaues Verstandnis der Anpassungsbedingungen; die Befahigung, wo notig, einfache Ubergangseinheiten selbst herstellen zu konnen, erspart viel Zeit und Geldmittel. Der zunehmende Einsatz integrierter Bauelemente in den letzten Jahren ermoglicht es einerseits, komplexe elektronische Anlagen in sehr kompakter Bauweise zu konstruieren, kommt aber andererseits auch der elektronischen Betatigung der Wissenschaftler entgegen, deren Ziel nicht die Entwicklung elektronischer Apparaturen ist, sondern fur die diese nur unentbehrliche Hilfsgerate darstellen. Denn bei Verwendung dieser integrierten Elemente erfolgt die Dimensionierung fast zur Ganze durch den Hersteller, der bereits funktionsfahige Baueinheiten zur Verfugung stellt. Es genugt dann, uber die allgemein giiltigen elektronischen Grundlagen Bescheid zu wissen, urn in Verbindung mit den technischen Daten der verwendeten Elemente zu einem Verstandnis der vorliegenden Schaltungen zu kommen.

Klappentext

In fast allen Wissenschaftsgebieten nehmen heute elektronische MeB­ methoden einen hervorragenden Platz ein. Besonders gilt dies fur die Kern­ physik bzw. Kerntechnik, in der oft hOchste Anspruche an die MeBgerate gestellt werden. Urn aber fur eine gestellte meBtechnische Aufgabe die elek­ tronischen Anforderungen richtig abzuschatzen bzw. die Moglichkeiten einer vorgegebenen Apparatur zu erkennen, muB der experimentelle Wissen­ schaftler bereits uber eine beachtliche Kenntnis der Elektronik verfugen. Auch die Fahigkeit, bei einer MiBfunktion eines elektronischen Gerates den Fehler erkennen, lokalisieren und beheben zu konnen, ist in der Praxis einer effektiven Forschungsarbeit von groBter Wichtigkeit. SchlieBlich erfordert die Kombination verschiedener MeBeinheiten, die oft von verschiedenen Herstellern stammen, ein genaues Verstandnis der Anpassungsbedingungen; die Befahigung, wo notig, einfache Ubergangseinheiten selbst herstellen zu konnen, erspart viel Zeit und Geldmittel. Der zunehmende Einsatz integrierter Bauelemente in den letzten Jahren ermoglicht es einerseits, komplexe elektronische Anlagen in sehr kompakter Bauweise zu konstruieren, kommt aber andererseits auch der elektronischen Betatigung der Wissenschaftler entgegen, deren Ziel nicht die Entwicklung elektronischer Apparaturen ist, sondern fur die diese nur unentbehrliche Hilfsgerate darstellen. Denn bei Verwendung dieser integrierten Elemente erfolgt die Dimensionierung fast zur Ganze durch den Hersteller, der bereits funktionsfahige Baueinheiten zur Verfugung stellt. Es genugt dann, uber die allgemein giiltigen elektronischen Grundlagen Bescheid zu wissen, urn in Verbindung mit den technischen Daten der verwendeten Elemente zu einem Verstandnis der vorliegenden Schaltungen zu kommen.

Inhalt

1. Meßtechnische Problemstellung.- 1.1. Strahlungsdetektoren als Quellen der Information.- 1.2. Impulszählung.- 1.3. Messung von Impulsgrößenverteilungen.- 1.4. Korrelationsmessungen.- 1.5. Teilchenidentifizierung.- 1.6. Literatur.- 2. Grundlagen der Impulstechnik.- 2.1. Elementare Netzwerkanalyse.- 2.2. Transformationsmethoden der Netzwerkanalyse.- 2.3. Übertragungseigenschaften passiver Vierpole.- 2.4. Literatur.- 3. Diskrete aktive Halbleiterelemente.- 3.1. Der Transistor.- 3.2. Der Feldeffekttransistor.- 3.3. Die Tunneldiode.- 3.4. Literatur.- 4. Analoge Schalteinheiten.- 4.1. Verstärker.- 4.2. Nichtlineare Verstärker.- 4.3. Stromgeneratoren.- 4.4. Lineare Gatter.- 4.5. Lineare Änderungen an Impulsen.- 4.5.1. Impulsverzögerung.- 4.5.2. Impulsverlängerung (Impulsdehnung).- 4.6. Die Impulslänge als analoge Größe.- 4.7. Literatur.- 5. Digitale Schalteinheiten.- 5.1. Grundlagen der binären Logik.- 5.2. Der elektronische Schalter.- 5.3. Erzeugung logischer Niveaus.- 5.4. Logische Gatter.- 5.5. Kippschaltungen.- 5.6. Änderungen im zeitlichen Verhalten binärer Signale.- 5.7. Digital-Analog-Wandlung.- 5.8. Analog-Digital-Wandlung.- 5.9. Literatur.- 6. Geräte zur Verarbeitung von Detektorimpulsen.- 6.1. Impulsverstärkung.- 6.2. Impulszählung.- 6.3. Einkanal-Impulshöhenmessung.- 6.4. Einkanal-Zeitintervallmessung.- 6.5. Vielkanalmessungen.- 6.6. Literatur.