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Gesetzmäßigkeiten des Zufalls

  • Kartonierter Einband
  • 68 Seiten
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In diesem dritten Teil von Stochastik kompakt erläutert Heinz Klaus Strick, welche weiteren Aspekte man untersuchen kann, um Zufal... Weiterlesen
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Beschreibung

In diesem dritten Teil von Stochastik kompakt erläutert Heinz Klaus Strick, welche weiteren Aspekte man untersuchen kann, um Zufallsversuche im Hinblick auf die Zufälligkeit des Versuchsablaufs und des Versuchsergebnisses zu überprüfen. Über die Betrachtung von Häufigkeiten hinaus geht es auch um mögliche Abfolgen und Anordnungen, um Wiederholungen und um die Vollständigkeit des Auftretens aller möglichen Ergebnisse. Die zugrunde liegenden Gesetzmäßigkeiten werden erläutert und Faustregeln zur Beurteilung angegeben. Zur Kontrolle, ob die unterschiedlichen "Gesetzmäßigkeiten des Zufalls" erfüllt sind, wird ein Binomialtest oder ein Chiquadrat-Anpassungstest angewandt.
Der Autor:

Heinz Klaus Strick war 37 Jahre lang als Lehrer für Mathematik und Physik an einem Gymnasium in Leverkusen tätig. Durch seine fachdidaktischen Aufsätze, Schulbücher, Vorträge und Lehraufträge an verschiedenen Universitäten wurde er bekannt. Für seine Aktivitäten und insbesondere für seine Anregungen zum Stochastikunterricht wurde ihm 2002 der Archimedes-Preis der MNU verliehen.


Autorentext

Heinz Klaus Strick war 37 Jahre lang als Lehrer für Mathematik und Physik an einem Gymnasium in Leverkusen tätig. Durch seine fachdidaktischen Aufsätze, Schulbücher, Vorträge und Lehraufträge an verschiedenen Universitäten wurde er bekannt. Für seine Aktivitäten und insbesondere für seine Anregungen zum Stochastikunterricht wurde ihm 2002 der Archimedes-Preis der MNU verliehen.



Inhalt

Häufigkeitstests (Binomial- und Chiquadrat-Anpassungstest).- Reihen-, Maximum-, Poker-, Run- und Intervalltest (Wartezeitverteilung).- Kollisionstest (Geburtstagsparadoxon), Sammelbilder-Test (vollständige Serie) und Permutationstest (Rencontre-Paradoxon).

Produktinformationen

Titel: Gesetzmäßigkeiten des Zufalls
Untertitel: Stochastik kompakt
Autor:
EAN: 9783658254643
ISBN: 978-3-658-25464-3
Format: Kartonierter Einband
Herausgeber: Springer Fachmedien Wiesbaden
Genre: Analysis
Anzahl Seiten: 68
Gewicht: 102g
Größe: H210mm x B148mm x T4mm
Veröffentlichung: 29.03.2019
Jahr: 2019
Auflage: 1. Aufl. 2019

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