Willkommen, schön sind Sie da!
Logo Ex Libris

Oberflächenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs

  • Kartonierter Einband
  • 138 Seiten
(0) Erste Bewertung abgeben
Bewertungen
(0)
(0)
(0)
(0)
(0)
Alle Bewertungen ansehen
Dissertation Universität Münster 1996Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelemente... Weiterlesen
20%
70.00 CHF 56.00
Auslieferung erfolgt in der Regel innert 4 bis 6 Werktagen.

Beschreibung

Dissertation Universität Münster 1996

Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.

Autorentext

Dr. Frank Schröder-Oeynhausen studierte Physik an der Universität zu Köln und Betriebswirtschaft an der FernUniversität Hagen. Er ist Technologieberater beim VDI in Düsseldorf.



Inhalt

Materialkunde - Verwendete oberflächenanalytische Methoden - Quantitativer Nachweis von Metallverunreinigungen auf GaAs - Charakterisierung passivierender Oberflächenoxide auf GaAs - Zusammenfassende Diskussion

Produktinformationen

Titel: Oberflächenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs
Untertitel: Diss.
Autor:
EAN: 9783824420919
ISBN: 978-3-8244-2091-9
Format: Kartonierter Einband
Herausgeber: Deutscher Universitätsvlg
Genre: Elektrotechnik
Anzahl Seiten: 138
Gewicht: 235g
Größe: H148mm x B209mm x T10mm
Jahr: 1997
Auflage: 1997. 1997