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Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik

Beschreibung

Diese Arbeit beschreibt den neuartigen Einsatz von breitbandigen kontinuierlichen Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-On-Wafer-Messtechnik durch die Integration in On-Wafer-Messspitzen. Eine modellbasierte Methode für den effizienten ...

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