Es wird ein Überblick über heute existierende Geräte und Antastverfahren von bildverarbeitenden Systemen zur Geometriemessung gegeben. Darauf aufbauend werden Prinzipien und Konzepte entwickelt, die die Meßgeschwindigkeit, den Automatisierungsgrad und die Sicherheit bei der Meßwertgewinnung erhöhen. Hierzu wird ein auf detaillierten Modellvorstellungen basierendes Verfahren zur Extraktion geometrischer Merkmale aus Bildern entwickelt. Das Gerätekonzept beinhaltet eine automatische Elimination von Störungen und eine automatische Beleuchtungsregelung sowie einen Vorschlag zur Parallelisierung einzelner Teilprozesse zur schnellen und sicheren Meßwertgewinnung. Am Beispiel zweier exemplarischer Anwendungen wird seine Wirksamkeit und Leistungsfähigkeit erläutert und dokumentiert.

Autorentext
Prof. Dr.-Ing. Claus Keferstein lehrt an der Interstaatlichen Hochschule für Technik Buchs, NTB, Schweiz, im Bereich Qualitätstechnologie

Klappentext

Es wird ein Überblick über heute existierende Geräte und Antastverfahren von bildverarbeitenden Systemen zur Geometriemessung gegeben. Darauf aufbauend werden Prinzipien und Konzepte entwickelt, die die Meßgeschwindigkeit, den Automatisierungsgrad und die Sicherheit bei der Meßwertgewinnung erhöhen. Hierzu wird ein auf detaillierten Modellvorstellungen basierendes Verfahren zur Extraktion geometrischer Merkmale aus Bildern entwickelt. Das Gerätekonzept beinhaltet eine automatische Elimination von Störungen und eine automatische Beleuchtungsregelung sowie einen Vorschlag zur Parallelisierung einzelner Teilprozesse zur schnellen und sicheren Meßwertgewinnung. Am Beispiel zweier exemplarischer Anwendungen wird seine Wirksamkeit und Leistungsfähigkeit erläutert und dokumentiert.

Inhalt
0 Verwendete Abkürzungen und Formelzeichen.- 1 Einleitung.- 2 Überblick über optoelektronische Meßverfahren in der Fertigungsmeßtechnik.- 3 Segmentierungsverfahren zur Extraktion geometrischer Größen aus Bildern.- 4 Konzept und Aufbau des Meßgerätes.- 5 Realisierung des Gerätekonzepts Anwendungsbeispiele .- 6 Zusammenfassung und Ausblick.- 7 Schrifttum.