Autorentext
Prof. Dr. ADOLF JOSEF SCHWAB studierte und promovierte an der Elite-Universität Karlsruhe auf dem Gebiet der Elektrotechnik. Seinem Aufenthalt als Postdoctoral Fellow am MIT in den USA folgte 1972 die Habilitation. 1976 erhielt er einen Ruf als Professor an die Universität Darmstadt, 1978 an die Universität Dortmund. Im Jahre 1980 wurde er zum Ordentlichen Professor und Direktor des Instituts für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik an der Elite-Universität Karlsruhe ernannt. Von 1989 bis 1993 leitete er das ABB Konzernforschungszentrum in Heidelberg. Heute ist Prof. Schwab Ordinarius im Ruhestand und leitet die Prof. Schwab Consulting und Partner.

Inhalt
1 Oszilloskopmeßtechnik für schnell veränderliche hohe Spannungen und Ströme.- 1.1 Elektronenstrahloszilloskope.- 1.2 Speicheroszilloskope und photographische Aufzeichnung.- 1.3 Digitale Speichersysteme.- 1.4 Meßkabel.- 1.5 Elektromagnetische Verträglichkeit.- 1.6 Messungen mit Differenzverstärkern.- 2 Messung hoher Stoßspannungen mit Spannungsteiler und Elektronenstrahloszilloskop.- 2.1 Der Meßkreis und seine Übertragungseigenschaften.- 2.2 Ohmsche Spannungsteiler.- 2.3 Kapazitive Spannungsteiler.- 2.4 Das Kettenleiterersatzschaltbild.- 2.5 Leitungsspannungsteiler.- 3 Einrichtungen zur Messung hoher Gleich- und Stoßspannungen sowie des Scheitel- und Effektivwerts hoher Wechselspannungen.- 3.1 Messung hoher Gleichspannungen und des Effektivwerts hoher Wechselspannungen.- 3.2 Messung des Effektivwerts hoher Wechselspannungen.- 3.3 Messung hoher Gleichspannungen, Stoßspannungen und des Scheitelwerts hoher Wechselspannungen mit der Kugelfunkenstrecke.- 3.4 Messung des Scheitelwerts hoher Wechsel- und Stoßspannungen.- 3.5 Messung hoher Gleichspannungen sowie des Scheitelwerts und beliebiger Zwischenwerte hoher Wechselspannungen mit Hochspannungsmessern nach dem Generatorprinzip.- 3.6 Absolute Spannungsmessung.- 3.7 Messung elektrostatischer Aufladungen.- 4 Messung hoher, schnellveränderlicher Ströme mit dem Elektronenstrahloszilloskop.- 4.1 Niederohmige Meßwiderstände.- 4.2 Magnetische Spannungsmesser (Rogowski-Spulen).- 4.3 Hall-Generatoren.- 5 Nichtkonventionelle Messung hoher Spannungen und Ströme.- 5.1 Optische Effekte.- 5.2 Intensitätsmodulation.- 5.3 Nichtkonventionelle Strommessung.- 5.4 Nichtkonventionelle Spannungsmessung.- 6 Dielektrische Messungen.- 6.1 Serien- und Parallelersatzschaltbild verlustbehafteter Kondensatoren.- 6.2Brückenschaltungen zum Messen von Kapazitäten und Verlustfaktoren.- 6.3 Allgemeine Betrachtungen über Empfindlichkeit, Abschirmung und Brückenelemente.- 6.4 Messung der Kapazität und des Verlustfaktors geerdeter Prüflinge.- 7 Teilentladungsmeßtechnik.- 7.1 Teilentladungsimpulse in Hohlräumen.- 7.2 Teilentladungsmeßschaltungen.- 7.3 Prüflinge mit verteilten Parametern.- 7.4 Meßgeräte zur Erfassung von Teilentladungen.- 7.5 Aussagekraft der am Ankopplungsvierpol gemessenen Größen in bezug auf die Größe der tatsächlichen Teilentladungen.- 7.6 Äquivalenz von Teilentladungsmeßergebnissen in Picocoulomb und Mikrovolt.- 7.7 Abschließende Bemerkungen zur Teilentladungsmeßtechnik.