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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

  • Kartonierter Einband
  • 392 Seiten
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Beschreibung

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2020, held in Padua, Italy, in January 2021.

The 35 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 81 submissions.

The accepted papers cover the major topics of current interest in pattern recognition, including classification and clustering, deep learning, structural matching and graph-theoretic methods, and multimedia analysis and understanding.



Inhalt
Classification and data processing.- Deep learning.- Graph-theoretic methods.- Multimedia analysis and understanding.

Produktinformationen

Titel: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Untertitel: Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2020, Padua, Italy, January 21-22, 2021, Proceedings
Editor:
EAN: 9783030739720
ISBN: 3030739724
Format: Kartonierter Einband
Herausgeber: Springer International Publishing
Anzahl Seiten: 392
Gewicht: 593g
Größe: H235mm x B155mm x T21mm
Jahr: 2021
Untertitel: Englisch
Auflage: 1st ed. 2021

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