Willkommen, schön sind Sie da!
Logo Ex Libris

First-Principles Prediction of Phase Stability of Electronic Materials

  • E-Book (pdf)
  • 162 Seiten
(0) Erste Bewertung abgeben
Bewertungen
(0)
(0)
(0)
(0)
(0)
Alle Bewertungen ansehen
Master's Thesis from the year 2013 in the subject Physics - Other, grade: 1,5, Technical University of Berlin (Fritz-Haber-In... Weiterlesen
E-Books ganz einfach mit der kostenlosen Ex Libris-Reader-App lesen. Hier erhalten Sie Ihren Download-Link.
CHF 36.90
Download steht sofort bereit
Informationen zu E-Books
E-Books eignen sich auch für mobile Geräte (sehen Sie dazu die Anleitungen).
E-Books von Ex Libris sind mit Adobe DRM kopiergeschützt: Erfahren Sie mehr.
Weitere Informationen finden Sie hier.

Beschreibung

Master's Thesis from the year 2013 in the subject Physics - Other, grade: 1,5, Technical University of Berlin (Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft), language: English, abstract: Mit der experimentellen Entdeckung der einzigartigen elektronischen Struktur von Graphen und der daraus folgenden hohen Elektronenmobilität beginnt eine neue Ära, deren Auswirkung nicht nur für die Physik und Nanoelektronik von Bedeutung sind. Im Gegensatz zu anderen Herstellungsverfahren hat die Graphitisierung der Polflächen von Siliziumkarbid (SiC) den wesentlichen Vorteil, dass es große Graphenlagen direkt auf einem Halbleiter bereitstellt. Vor diesem Hintergrund wird dieser Ansatz aktiv von vielen Forschungsgruppen wegen der Eignung für neuartige elektronische Geräte verfolgt. Da Graphen ein zweidimensionaler Kristall ist, muss seine Umgebung jedoch sorgfältig untersucht werden. Die höchste Ladungsträgermobilität wurde bisher für freistehendes Graphen erreicht. [...] Diese Arbeit zielt darauf ab, einen Überblick über die unterschiedlichen Konfigurationen auf dieser Oberfläche zu geben und Informationen über die Schnittstelle zwischen Graphen und SiC mit Hilfe von ab initio-Rechnungen zu erhalten. Hiermit lassen sich Strukturmodelle verifizieren und klare Aussagen über die Stabilität aller Konfigurationen vornehmen. Zu Beginn wird der theoretische Hintergrund für das weitere Verständnis vermittelt. Darauf folgt eine ausführliche Untersuchung der Diamanten-Graphit-Koexistenz, um das Stabilitätsverhalten im Kohlenstofflimit zu verstehen, welches entscheidend für das Wachstum von Graphen ist. Es wird der Beweis erbracht, dass trotz des individuellen Charakters der Graphit- und Diamantbindungen, DFT und das Finite Displacement-Verfahren zahlreiche Eigenschaften beider Phasen in qualitativer und quantitativer Übereinstimmung mit experimentellen Daten liefern. Im Anschluss wird demonstriert, dass ab initio-Rechnungen auch in Hinblick auf die Vorhersage der Stabilität von Oberflächenstrukturen ein mächtiges Werkzeug sind. Mit der vorgestellten Methodik wird die bekannte (2x2)c Struktur verifiziert und eine Vielzahl vorgeschlagener Modelle für die experimentell beobachtbare (3x3) Rekonstruktion falsifiziert. Indes wird ein von der Si Seite des Substrats adaptiertes (3x3) twist-Modell als die wahrscheinlich stabile Struktur vorgeschlagen. Die dargestellten Ergebnisse lassen dabei kaum Spielraum offen, dass es sich um eine andere als die genannte Struktur handelt. Zu guter Letzt wird gezeigt, dass sowohl kürzlich experimentell beobachtete als auch von Si-Seite adaptierte, graphenähnliche Interface-Strukturen auf dem nackten Substrat instabil sind.

Produktinformationen

Titel: First-Principles Prediction of Phase Stability of Electronic Materials
Autor:
EAN: 9783656918660
ISBN: 978-3-656-91866-0
Digitaler Kopierschutz: frei
Format: E-Book (pdf)
Herausgeber: Grin Publishing
Genre: Sonstiges
Anzahl Seiten: 162
Veröffentlichung: 13.03.2015
Jahr: 2015
Untertitel: Englisch
Dateigrösse: 7.6 MB