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Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

Von:
Günther von Bünau

Beschreibung

Inhalt
Apparatur.- Allgemeines zur Sekundärionenerzeugung.- Sekundärionenausbeute.- Nachweisempfindlichkeit.- Hochauflösung.- Fragmentierung organischer Verbindungen.- Schlußbemerkung.- Literatur.

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Beschreibung

Inhalt
Apparatur.- Allgemeines zur Sekundärionenerzeugung.- Sekundärionenausbeute.- Nachweisempfindlichkeit.- Hochauflösung.- Fragmentierung organischer Verbindungen.- Schlußbemerkung.- Literatur.

Produktinformationen

Titel:
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
Autor:
Günther von Bünau
EAN:
9783322875280
Format:
E-Book (pdf)
Hersteller:
VS Verlag für Sozialwissenschaften
Genre:
Sonstiges Sozialwissenschaften, Recht, Wirtschaft
Veröffentlichung:
27.11.2013
Digitaler Kopierschutz:
Wasserzeichen
Anzahl Seiten:
23
Lesemotiv:
Verstehen

Tags

#Chemische Reaktion, #Chemische Reaktionen, #Eindringtiefe, #Energie, #Gasphase, #Genom, #Halbleiter, #Information, #Korrosion, #Massenspektrometrie, #Mischen, #Sims, #Sorption, #Spektrometrie, #Wiese

Mehr entdecken: Sozialwissenschaften, Recht, Wirtschaft

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