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Dynamische Tieftemperatur Rasterkraftmikroskopie

  • Kartonierter Einband
  • 148 Seiten
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Beschreibung

Reibungsprozesse spielen im Alltag eine wesentliche Rolle. Ohne Haftreibung zwischen einer Schuhsohle und dem Untergrund wäre eine Fortbewegung undenkbar. Ebenso würden kleinste Kraftstöße ausreichen, um z.B. einen Schrank im Raum frei zu bewegen. Trotz dieses erheblichen Einflusses auf unser Leben, sind die physikalischen Prozesse der Reibung im Wesentlichen unverstanden. Auf makroskopischer Skala existieren empirische Regeln, welche aber im mikroskopischen Bereich keine Gültigkeit haben und somit u.a. die Reibung einzelner Atome nicht beschreiben können. In dieser Arbeit wird die Energiedisspation auf atomarer Skala unter Verwendung eines Rasterkraftmikroskops untersucht. Dabei oszilliert eine atomar scharfe Spitze harmonisch in der Nähe einer Oberfläche, wodurch es zur Wechselwirkung zwischen einem Punktkontakt und einem mikroskopisch kleinen Bereich der Ober_äche kommt. Die Wechselwirkung zwischen der oszillierenden Spitze und der Ober_äche besteht einerseits aus konservativen und andererseits aus nicht-konservativen Kraftanteilen. Hierbei wird durch konservative Kräfte eine Frequenzverschiebung und durch nicht-konservative Kräfte im Wesentlichen eine Dämpfung der oszillierenden Spitze hervorgerufen.

Autorentext

2004-2010: Studium der Physik an der Universität Duisburg-Essen. Diplom in Physik (2010). Seit 2010 Promotion mit dem Thema: "Analyse katalytischer Reaktionen individueller organischer Moleküle bei tiefen Temperaturen unter Verwendung der Rastertunnelmikroskopie".

Produktinformationen

Titel: Dynamische Tieftemperatur Rasterkraftmikroskopie
Untertitel: Untersuchung von Energiedissipation auf Ober ächen
Autor:
EAN: 9783639496154
ISBN: 978-3-639-49615-4
Format: Kartonierter Einband
Herausgeber: AV Akademikerverlag
Genre: Physikalische Chemie
Anzahl Seiten: 148
Gewicht: 237g
Größe: H220mm x B150mm x T9mm
Jahr: 2018